由於以Kapton和F46 柔性材料為基底（dǐ）的二次表麵鏡（jìng）在衛星上起著重要的熱控（kòng）作用, 所以對它們直接暴露（lù）在空間那（nà）一邊的高（gāo）絕緣表麵的改性, 不僅要滿足防靜電積累的要求,還必須兼顧它們的光學（xué）性質, 不能因（yīn）表麵改性而降低它們的熱控效果. 因而對所製備的導電膜除了測其（qí）膜電阻外, 還進行了光透過率和發（fā）射率的測量. 膜電阻測量按部標QJ-2306“ 空間環境下材料表麵電阻測試方法（fǎ）”規（guī）定的內容進行. 膜的透過率用P-E 紫外（wài）可見紅外分（fèn）光光度計測量, 發射率用美國A E 發射計測量（liàng）。

  考慮到Kapton等柔性二次表麵鏡在製備有抗靜電膜後, 在貯（zhù）存、運輸、衛星（xīng）總（zǒng）裝以及空間應用各階段都可能造成對導電膜性能（néng）的影響, 因此檢驗所製備的導電膜（mó）性能的穩定性也（yě）是極為必要的. 美國GE 公司和sheldhal公司在這方麵進行了相當細致的工作（zuò），還製定了試驗規範（fàn）. 參（cān）照他們的工作, 甚至部分試（shì）驗（yàn）還在更為苛刻的條件（jiàn）下完成了對新研製的導電膜的穩（wěn）定性評估（gū）試驗（yàn）。

  通（tōng）過對三種導電膜係的各種評價試驗, 充分表明了利用平麵磁（cí）控濺射方法在優選的工藝參數（shù）條件下, 可（kě）以製備出性能優良的抗靜電導電膜. 而且電學性質和光學性質具（jù）佳.特（tè）別TO膜不須經高溫後處理即可達到與ITO、IO膜相同的性（xìng）能, 這一（yī）工藝研究結果對降低成本帶來（lái）了（le）很大好處。